Zoži izbor:

Počisti vse
Potrdi izbor
Prodajni program

E32 za natančno odkrivanje

Zasnova za visoko natančnost zaznave z dodatnimi lečami omogoča natančno zaznavo najmanjših merjencev ali delov stroja ter razlike v višini razreda 100 μm.

  • Koaksialna optična vlakna s svetlobno točko premera 100 μm
  • Izvedbe z ločenim oddajnim in sprejemni vlaknom z ozkim svetlobni žarkom
  • Difuzni modeli za zaznavo 100 μm spremembe pozicije
Prikazov
Razvrsti
Produkti

E32-L24L 2M

Optično vlakno, flat 4mm, standardno R10, 2m kabel

Tehnični list

Tehnični list

E32-L24LR 2M

Optično vlakno, flat 4mm, visoka upogljivost R1, 2m kabel

E32-L24S 2M

Optično vlakno, convergent reflective, oglato, flat form, standardno R25 vlakno, 2m kabel

Tehnični list

Tehnični list

E32-L25

Fotoelektrični senzor, optično vlakno, limited reflektor, stranski, 2 m

Tehnični list

Tehnični list

E32-L25A

Optično vlakno , axial, 2m kabel (require E3X amplifier)

Tehnični list

Tehnični list

E32-L25L 2M

Optično vlakno, label detection, 7mm, R10 , 2m kabel

Tehnični list

Tehnični list

E32-L25LR 2M

Optično vlakno, convergent reflective, oglato, , visoka upogljivost R4 vlakno, 2m kabel

E32-T22S 2M

Optično vlakno, presvetlitveno, 3mm dia, standardno R10 , 2m kabel

Tehnični list

Tehnični list

E32-T22SR 2M

Optično vlakno, presvetlitveno